2024-03-28T21:43:02Z
https://nagoya.repo.nii.ac.jp/oai
oai:nagoya.repo.nii.ac.jp:00030585
2023-01-16T04:24:11Z
320:606:607
Strain Field Analysis of Threading Dislocations in GaN Substrate by Micro Raman Mapping
顕微ラマンマッピングによるGaN基板中の貫通転位のひずみ場解析
小久保, 信彦
101751
名古屋大学
Nagoya University
博士(工学)
doctoral thesis
2020-09-28
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甲第13314号
https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/30585/files/k13314_abstract.pdf
https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/30585/files/k13314_review.pdf
https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/30585/files/k13314_summary.pdf
jpn