@article{oai:nagoya.repo.nii.ac.jp:00010811,
 author = {鬼頭, 信貴 and 高木, 直史},
 issue = {7},
 journal = {電子情報通信学会論文誌},
 month = {Jul},
 note = {並列乗算器の主要な構成回路である部分積加算部のテストについて考える．部分積加算部のけた上げ保存加算器の段数をLとすると，部分積加算部が，若干の回路の付加により，単一セル機能故障の仮定においてLに比例するパターン数でテストできることを示す．まず，任意の構成の部分積加算部が部分積生成部を含めてたかだか6L+5個のパターンでテストできることを示し，更に，実用的な構成の部分積加算部がたかだか2L+9個のパターンでテストできることを示す．これにより，NビットWallace乗算器の部分積加算部がO(log N)個のパターンでテスト可能であることが明らかになった．},
 pages = {994--1002},
 title = {けた上げ保存加算器で構成された部分積加算部をもつ乗算器のテスト(ディペンダブルコンピューティング)},
 volume = {J92-D},
 year = {2009}
}