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アイテム / Annealing effects on a high-k lanthanum oxide film on Si (001) analyzed by aberration-corrected transmission electron microscopy/scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy / journal_of_applied_physics_107_124510
journal_of_applied_physics_107_124510
ファイル | ライセンス |
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journal_of_applied_physics_107_124510.pdf (1.2 MB) sha256 a976c8097ea2d08fb1b8f62369974c111605d25bf6c89cd134ef4450f96b21a5 |
公開日 | 2010-10-04 | |||||
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ファイル名 | journal_of_applied_physics_107_124510.pdf | |||||
本文URL | https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/12308/files/journal_of_applied_physics_107_124510.pdf | |||||
ラベル | journal_of_applied_physics_107_124510.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.2 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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