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アイテム / Design of automatic detection algorithm for dislocation contrasts in birefringence images of SiC wafers / Kawata_et_al_JJAP_60_2021_SBBD06
Kawata_et_al_JJAP_60_2021_SBBD06
ファイル | ライセンス |
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Kawata_et_al_JJAP_60_2021_SBBD06.pdf (1.3 MB) sha256 43e6002d443023263d41312a6473182c18692bce7ffb528d1e0c22813fdd4bb5 |
公開日 | 2021-07-05 | |||||
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ファイル名 | Kawata_et_al_JJAP_60_2021_SBBD06.pdf | |||||
本文URL | https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/2001187/files/Kawata_et_al_JJAP_60_2021_SBBD06.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 1.2 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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