WEKO3
アイテム / Effect of beam current on defect formation by high-temperature implantation of Mg ions into GaN / Yuta_ITOH_article_revised
Yuta_ITOH_article_revised
ファイル | ライセンス |
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Yuta_ITOH_article_revised.pdf (916.8 kB) sha256 1f7dedd49b570e0b3e428cf75dc5c797b8e7da880904f6dafcf22e2c72695595 |
公開日 | 2022-05-10 | |||||
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ファイル名 | Yuta_ITOH_article_revised.pdf | |||||
本文URL | https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/2002697/files/Yuta_ITOH_article_revised.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 895 KB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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