ログイン
Language:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. H200 未来材料・システム研究所
  2. H200a 雑誌掲載論文
  3. 学術雑誌

SiN interlayer to improve external quantum efficiency and reduce sidewall recombination for blue (micro) light-emitting diodes

http://hdl.handle.net/2237/0002013718
http://hdl.handle.net/2237/0002013718
1b0b8281-abc5-4657-a662-e44c11379919
名前 / ファイル ライセンス アクション
071101_1_5_0272825.pdf 071101_1_5_0272825.pdf (2.5 MB)
 Download is available from 2026/8/19.
アイテムタイプ itemtype_ver1(1)
公開日 2025-12-09
タイトル
タイトル SiN interlayer to improve external quantum efficiency and reduce sidewall recombination for blue (micro) light-emitting diodes
言語 en
著者 Pristovsek, Markus

× Pristovsek, Markus

en Pristovsek, Markus

Search repository
Park, Jeong-Hwan

× Park, Jeong-Hwan

en Park, Jeong-Hwan

Search repository
Kwon, Woong

× Kwon, Woong

en Kwon, Woong

Search repository
Cheong, Heajeong

× Cheong, Heajeong

en Cheong, Heajeong

Search repository
Amano, Hiroshi

× Amano, Hiroshi

en Amano, Hiroshi

Search repository
アクセス権
アクセス権 embargoed access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_f1cf
権利
権利情報 Copyright 2025 Author(s). Published under an exclusive license by AIP Publishing. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and AIP Publishing.The following article appeared in (APPLIED PHYSICS LETTERS. 127, 071101 (2025)) and may be found at (https://doi.org/10.1063/5.0272825).
言語 en
内容記述
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We demonstrate that inserting a fractional monolayer of SiN below the first InGaN quantum well (QW) does not change the In content but increases the external quantum efficiency (EQE) of light-emitting diodes (LEDs) and reduces the sidewall recombination, together with a small redshift and slight broadening of the emission. At low currents, we could directly measure the reduced emission from the sidewall of 80 μm diameter circular LEDs by inserting an SiN interlayer. This points to a reduced lateral diffusion of carriers in the QWs via an enhanced composition fluctuation indicated by the broadening of x-ray diffraction satellite peaks in addition to the formation of V-defects. Thus, the SiN interlayer increases the carrier localization in the QWs, which increases the EQE of LEDs due to fewer carriers reaching the sidewall as well as dislocations and point defects. The lateral localization of carriers could also explain the large scattering of the reported size dependencies of micro LEDs.
言語 en
出版者
出版者 AIP Publishing
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプresource http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
タイプ journal article
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
関連情報
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1063/5.0272825
収録物識別子
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 0003-6951
書誌情報 en : APPLIED PHYSICS LETTERS

巻 127, 号 7, p. 071101, 発行日 2025-08-19
ファイル公開日
日付 2026-08-19
日付タイプ Available
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2025-12-09 01:33:55.315559
Show All versions

Share

Share
tweet

Cite as

Other

print

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX
  • ZIP

コミュニティ

確認

確認

確認


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3