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アイテム / Reduction in Mg Ion Implantation Damage and GaN Direct Growth on SiC Substrate for Vertical Power Device Applications / k11461_review
k11461_review
ファイル | ライセンス |
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k11461_review.pdf (312.3 kB) sha256 a953533de6318d00d638615bd14e5353aef1271aa7f228703b3a6cb104855de8 |
公開日 | 2016-06-01 | |||||
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ファイル名 | k11461_review.pdf | |||||
本文URL | https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/22068/files/k11461_review.pdf | |||||
ラベル | k11461_review.pdf | |||||
オブジェクトタイプ | other | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 312.3 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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