WEKO3
アイテム
A simple method of the electric/magnetic field observation by a conventional transmission electron microscope
http://hdl.handle.net/2237/5299
http://hdl.handle.net/2237/5299f1f1d56c-8d3f-4ac7-b49a-d6ae9e9aa215
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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SCIENTIFICNET_8036588_52684189033808.pdf (1.9 MB)
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Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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公開日 | 2006-01-17 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | A simple method of the electric/magnetic field observation by a conventional transmission electron microscope | |||||
言語 | en | |||||
著者 |
Sasaki, Katsuhiro
× Sasaki, Katsuhiro× Saka, Hiroyasu |
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アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | In-situ observation | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | Geometrical optics | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | SAD aperture | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | lens | |||||
抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | A novel method to observe the electrostatic field distribution with a conventional transmission electron microscope has been developed. The method allows measurements of a potential difference less than 1V/μm. This method can be performed in any kind of conventional transmission electron microscope and applied to the observation of the electric/magnetic field at the level of a specimen. | |||||
言語 | en | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing <DA14524950> (5th : 2004 : Beijing, China) Organizedand sponsored by the Chinese Society for Metals | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | Trans Tech Publications Inc. | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | journal article | |||||
出版タイプ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
DOI | ||||||
関連タイプ | isVersionOf | |||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.475-479.4029 | |||||
ISBN | ||||||
関連タイプ | isPartOf | |||||
識別子タイプ | ISBN | |||||
関連識別子 | 0-87849-960-1 | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | PISSN | |||||
収録物識別子 | 0255-5476 | |||||
書誌情報 |
en : Materials Science Forum 巻 475-479, p. 4029-4034, 発行日 2005 |
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フォーマット | ||||||
値 | application/pdf | |||||
著者版フラグ | ||||||
値 | publisher | |||||
URI | ||||||
識別子 | http://hdl.handle.net/2237/5299 | |||||
識別子タイプ | HDL |