WEKO3
アイテム
A Study on Characterization of One-dimensional Semiconductor Nanomaterials by Microwave Atomic Force Microscopy
http://hdl.handle.net/2237/0002005788
http://hdl.handle.net/2237/000200578899d80210-5dee-4a8c-9808-171bbba7f6b0
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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k14540_abstract.pdf (118 KB)
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k14540_review.pdf (435 KB)
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k14540_thesis.pdf (3.6 MB)
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| Item type | itemtype_ver1(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2023-07-06 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | A Study on Characterization of One-dimensional Semiconductor Nanomaterials by Microwave Atomic Force Microscopy | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| その他のタイトル | ||||||||||
| その他のタイトル | マイクロ波原子間力顕微鏡による一次元半導体ナノ材料の評価に関する研究 | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 著者 |
趙, 珉吉
× 趙, 珉吉
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| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||||
| 書誌情報 |
発行日 2023-03-27 |
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| 学位名 | ||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||||||
| 学位授与機関 | ||||||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||||||
| 学位授与機関識別子 | 13901 | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 学位授与機関名 | 名古屋大学 | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 学位授与機関名 | Nagoya University | |||||||||
| 学位授与年度 | ||||||||||
| 値 | 2022 | |||||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||||
| 学位授与年月日 | 2023-03-27 | |||||||||
| 学位授与番号 | ||||||||||
| 学位授与番号 | 甲第14540号 | |||||||||
