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  1. B100 理学部/理学研究科
  2. B100a 雑誌掲載論文
  3. 学術雑誌

Ionic liquid thin layer-induced memory effects in organic field-effect transistors

http://hdl.handle.net/2237/00030980
http://hdl.handle.net/2237/00030980
dd9dfac2-120d-49c2-bb8f-09aa43d09015
名前 / ファイル ライセンス アクション
Awaga_PCCP.docx.pdf Awaga_PCCP.docx (1.6 MB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2019-12-17
タイトル
タイトル Ionic liquid thin layer-induced memory effects in organic field-effect transistors
言語 en
著者 Eguchi, Keitaro

× Eguchi, Keitaro

WEKO 94625

en Eguchi, Keitaro

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Matsushita, Michio M.

× Matsushita, Michio M.

WEKO 94626

en Matsushita, Michio M.

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Awaga, Kunio

× Awaga, Kunio

WEKO 94627

en Awaga, Kunio

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アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We examined the morphologies and structures of pentacene and C60 thin films grown on thin layers of an ionic liquid, N,N-diethyl-N-methyl-N-(2-methoxyethyl)ammonium bis(trifluoromethanesulfonyl)imide (DEME-TFSI), and found that the characteristics of the films depended significantly on the thickness of DEME-TFSI. In addition, we fabricated organic field-effect transistors (OFETs) of pentacene and C60 in which a thin layer of DEME-TFSI was inserted between the organic semiconductor (pentacene or C60) and the gate insulating layer, and measured their performance in situ. We found that 1.5–2 ML (ML: monolayer) DEME-TFSI produced a large hysteresis loop in the transfer characteristics in these OFETs, but 5 ML DEME-TFSI resulted in the formation of normally-on states with far smaller memory effects. The curvatures of the hysteresis loops were caused by the formation of trap states induced by the DEME-TFSI layers. This novel technique provides a simple tool for creating hysteresis behavior and could potentially be applied to transistor memory devices.
言語 en
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 ファイル公開:2020/09/21
言語 ja
出版者
出版者 Royal Society of Chemistry
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプresource http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
タイプ journal article
出版タイプ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
DOI
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.1039/C9CP01647C
ISSN(print)
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1463-9076
書誌情報 en : Physical Chemistry Chemical Physics

巻 21, 号 35, p. 18823-18829, 発行日 2019-09-21
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Ver.1 2021-03-01 09:49:13.920958
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