WEKO3
アイテム / Structural characterization of GaN laterally overgrown on a (111)Si substrate / ApplPhysLett_79_955
ApplPhysLett_79_955
| ファイル | ライセンス |
|---|---|
 ApplPhysLett_79_955.pdf (284.9 kB)
sha256
a60ca0a7a0c754a56785a058a610c4bc26f85cf5e6198e3fb6048b0e7904db38
|
| 公開日 | 2018-02-19 | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| ファイル名 | ApplPhysLett_79_955.pdf | |||||
| 本文URL | https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/5380/files/ApplPhysLett_79_955.pdf | |||||
| ラベル | ApplPhysLett_79_955.pdf | |||||
| オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 284.9 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
|---|