WEKO3
アイテム / Layer structure analysis of Er δ-doped InP by x-ray crystal truncation rod scattering / JApplPhys_82_635
JApplPhys_82_635
| ファイル | ライセンス |
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 JApplPhys_82_635.pdf (235.7 kB)
sha256
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| 公開日 | 2018-02-19 | |||||
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| ファイル名 | JApplPhys_82_635.pdf | |||||
| 本文URL | https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/5420/files/JApplPhys_82_635.pdf | |||||
| ラベル | JApplPhys_82_635.pdf | |||||
| オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 235.7 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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